地质科技情报

1995, (03) 15-22

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中下地壳高导层成因研究综述
REVIEW OF THE MECHANISM OF THE HIGH CONDUCTION LAYERS IN MIDDLE TO LOWER CONTINENTAL CRUST

徐义贤

摘要(Abstract):

大地电磁(MT)测量结果揭示中下地壳较普遍存在高导层。迄今对高导层的成因解释已有多种假说。本文总结了这一领域近十几年来的大量研究成果,对可能的高导机制,特别是含水流体假说、粒间相互连通的碳薄膜假说及剪切带假说等进行了评述,并指出不存在全球性的普遍适用的模式。

关键词(KeyWords): 中下地壳,高导层,含水流体,碳薄膜,剪切带,各向异性,部分熔融

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation):

作者(Author): 徐义贤

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参考文献(References):

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