地质科技情报

1989, (04) 115-120

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俄歇电子谱仪(AES)在天然风化普通角闪石研究中的应用

David W.M. ,毛水和

摘要(Abstract):

用俄歇电子谱仪对天然风化普通角冈石头表面化学进广了分析研究.AES具有很高的空问分辨率和进行深度截面分析的功能,从而能对亚微米级深度区间中的微米级面积中的阳离子相对浓度变化进行测定.所获数据表明,在化学风化过程中有如特征:(1)在12×10~(-8)m厚度范围内表面化学特征存在系统的变化;(2)并未发生表面层阳离子耗尽现象;(3)不同组分以不同程度渗漏到不同深度;(4)并不一定生成粘土或蒙脱石新的矿物相、非稳态扩散模型与这些数据最为吻合.

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作者(Author): David W.M. ,毛水和

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